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測試服務平臺
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測試服務:

高分辨透射電子顯微鏡(TEM

JEM-3010

掃描電鏡 SEM

zeiss SIGMA 500

JEM-6700F

FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50

S3400N

原子力顯微鏡(AFM)

Veece nanoscope A

超聲波掃描(SAM

Sonoscan D24

X射線衍射儀 XRD

XRD-7000

X'Pert Pro

日本理學Dmax-Rapid II

X射線光電子能譜儀(XPS

AXIS ULTRA

X射線檢測(X-Ray

Phoenix MICROME|X 180T

激光拉曼光譜儀

Renishaw inVia Reflex

傅立葉變換紅外光譜儀

JOEL FTIR8400

穩態/瞬態熒光光譜儀

FLS980

PL熒光光譜量測系統

S301-058/059

PL映射系統PL MAPPING SYSTEM

Platom RPM blue

靜電衰減測試儀

JCI155v6

介電阻抗譜測試

Novocontrol GmbH  Concept 40

步入式現場環境模擬系統(恒溫恒濕環境)

X-73

高低溫沖擊試驗箱

ETH80-40A

電阻率測試儀

NIPPON

膜厚測試儀

橢偏儀

C-V測試

420S

B1500

探針臺

EB12/PSM1000

EPS 150TRIAX

激光共聚焦

OLS4100

綜合物性測量

VersaLab

ECV

EP-RE-0051

顆粒儀(自動光學檢查系統)

nSpec

可見分光光度計

CARY 5000

紫外可見分光光度計

Lambda950

臺階儀

布魯克 Dektak XT

A-Step膜厚段差測量儀

Dektak150

EL量測試系統

ELV1-MP3

金相顯微鏡

BX51M   

HALL載流子濃度測試儀

HL5500PC